华睿科技申请断栅缺陷检测相关专利，便于对电池片缺陷等级分级

金融界2025年1月8日消息，国家知识产权局信息显示，浙江华睿科技股份有限公司申请一项名为“断栅缺陷的检测方法、装置、终端及计算机可🏀读存储介质”的专利，公开号 CN 119251140 A，申请日期为2025年8月。 专利摘要显示，本发明提供一种断栅缺陷的检测方法、装置、终端及计算机可读存储介质，断栅缺陷的检测方法获取电池片表面的彩色图像，电池片表面具有栅线；彩色图像具有对应的灰度图像；对彩色图像进行断栅缺陷检测，得到包含断栅的区域图像；基于区域图像对应在灰度图像中各像素的灰。

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